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日立分析仪器推出FT210型X射线荧光测厚仪

发表时间:2024-01-19 10:36

日立分析仪器推出的FT210型X射线荧光测厚仪是一款新型的镀层测厚仪,旨在增强大批量测试需求和提高生产率。该仪器包括用于常规测量普通电镀的正比计数探测器,并集成了先进且易于使用的功能。



FT210还配备了新型的超大的样品视图、广视角相机、自动对焦和自动接近功能,以及名为“Find My Part™ (查找我的样品)”的智能识别功能,该功能可自动识别待测的特定测点并选择正确的分析方法。这些功能使得FT210能够快速、准确地完成测量和处理数据的工作,从而节省了操作员的时间,提高了生产效率。


此外,日立分析仪器还推出了用于增强FT200系列智能镀层分析功能的最新版FT Connect软件。新版本的FT Connect软件扩展了FT230的RoHS筛选功能,使得FT230现在可用于检查更多材料是否符合最新的有害物质指令。此外,新版本的FT Connect软件还增强了报告、创建校准曲线和数据处理的可用性功能。


总的来说,日立分析仪器推出的FT210型X射线荧光测厚仪和最新版的FT Connect软件是一套完整且先进的解决方案,旨在提高镀层测量的效率和准确性,为操作员节省时间,帮助他们专注于更有价值的任务。


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