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日立通用型原子力显微镜-AFM5100N

品牌 HITACHI日立
产品 原子力显微镜
型号 AFM5100N
产品详情
规格表

AFM5100N除了激光检测方式之外,全新的「自检测悬臂」,在保证高分辨表面形貌观察的同时,大大简化了AFM悬臂操作。


参数规格:

检测方式激光检测方式/自检测方式
样品尺寸**35 mmφ、厚度10 mm(专用配件厚度扩展至20 mm)
扫描范围
  • 20 µm/1.5 µmH(水平/垂直)

  • 100 µm/15 µmH

  • 150 µm/5 µmH

  • 110 µm/6 µmH(闭环差控制)

定位显微镜
  • 搭载CCD的

  • 变焦显微镜

  • 光学显微镜

  • 金相显微镜 (可以选配)

减震方式
  • 台式减震台

  • 落地式减震台(可以选配)

操作画面搭载流程图的操作导航系统
检测功能
  • DFM(dynamic force mode)

  • CURRENT、SSRM、SNDM、PRM、KFM

  • PM(相位模式) (可以选配)

扩展功能AFM、STM、SIS、FFM、LM-FFM、VE-AFM/DFM、Adhision、CURRENT、KFM、PRM、SNDM、SSRM、EFM、MFM


产品特点:


1. 简便的悬臂安装

通常的悬臂是非常渺小而且很难操作,内部装有传感器的「自检测悬臂」比普通的AFM探针要大得多,容易拿取,安装非常简单方便。

2. 不用调整激光光斑的自检测方式

激光检测方式的探针需要调节激光光斑的位置,操作复杂,而采用自检测方式的「自检测悬臂」无需调节激光光斑。

3. 精确的悬臂定位

悬臂的机械结构,能够以俯视方式直接观察悬臂的位置,从而轻松调整样品的测量的位置。除此之外,更加尖锐的探针提高了分辨率。

4. 方便的操作导航系统

通过流程图形式的导航系统,任何人都可以轻松地进行高分辨表面测量。另外,通过设定样品的软硬度和凹凸系数等参数,能够简单确定测量条件。

5. 紧凑的主机

主机上包含减震台、隔音罩、光学显微镜等附件,安装紧凑,体积小巧。

6. 优越的扩展功能

通过激光检测方式,能够扩展各种各样的选配功能。另外,只要插拔一根电缆就能够切换成激光检测方式。



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